Est une spécification générique pour les dispositifs àsemiconducteurs: dispositifs discrets et circuits intégrés, ycompris les circuits intégrés polylithiques, mais à fusion descircuits hybrides.Définit les méthodes de contrôle de la qualité à utiliser dans leSystème IECQ en présentant des règles générales applicables auxméthodes de mesure des caractéristiques électriques, aux essaisclimatiques et mécaniques et aux essais d'endurance.Cette édition remplace la première édition de la CEI 747-10 (1984).
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