IEC 60747-10:1991
Dispositifs à semiconducteurs - Dixième partie: Spécification générique pour les dispositifs discrets et les circuits intégrés
Est une spécification générique pour les dispositifs àsemiconducteurs: dispositifs discrets et circuits intégrés, ycompris les circuits intégrés polylithiques, mais à fusion descircuits hybrides.Définit les méthodes de contrôle de la qualité à utiliser dans leSystème IECQ en présentant des règles générales applicables auxméthodes de mesure des caractéristiques électriques, aux essaisclimatiques et mécaniques et aux essais d'endurance.Cette édition remplace la première édition de la CEI 747-10 (1984).
Est une spécification générique pour les dispositifs à semiconducteurs: dispositifs discrets et circuits intégrés, y compris les circuits intégrés polylithiques, mais à fusion des circuits hybrides. Définit les méthodes de contrôle de la qualité à utiliser dans le Système IECQ en présentant des règles générales applicables aux méthodes de mesure des caractéristiques électriques, aux essais climatiques et mécaniques et aux essais d'endurance. Cette édition remplace la première édition de la CEI 747-10 (1984).
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