IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002

IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002

mars 2002
Norme internationale Annulée

Amendement 1 - Dispositifs discrets à semiconducteurs et circuits intégrés - Partie 5-3: Dispositifs optoélectroniques - Méthodes de mesure

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

mars 2002

Nombre de pages

25 p.

Référence

IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002

Numéro de tirage

1 - 13/06/2005
Normes remplacées (3)
Norme internationale Annulée
Amendement 2 - Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits intégrés - Cinquième partie: Dispositifs optoélectroniques

Norme internationale Annulée
Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits intégrés - Cinquième partie: Dispositifs optoélectroniques

IEC 60747-5:1992
avril 1992
Norme internationale Annulée
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits intégrés - Cinquième partie: Dispositifs optoélectroniques

Présente la terminologie, les symboles littéraux, les valeurs limites et caractéristiques essentielles ainsi que les méthodes de mesure pour les photo-émetteurs, les détecteurs photoélectriques, les dispositifs photosensibles à semiconducteurs et les dispositifs utilisant le rayonnement optique pour leur fonctionnement interne.

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