IEC 60747-8:2010

IEC 60747-8:2010

décembre 2010
Norme internationale En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs descrets - Partie 8: Transistors à effet de champ

La CEI 60747-8:2010 donne les normes pour les catégories suivantes de transistors à effets de champ:- type A: type à jonction de grille;- type B: type à grille isolée à déplétion (appauvrissement) (normalement à l'état passant);- type C: type à grille isolée à enrichissement (normalement à l'état bloqué).Les principaux changements par rapport à l'édition précédente sont énumérés ci-dessous.a) L'Article 3 "Classification" a été déplacé et ajouté à l'Article 1.b) L'Article 4 "Terminologie et symboles littéraux" a été divisé en Article 3 "Termes et définitions" et Article 4 "Symboles littéraux", ce dernier a été amendé avec des additions et des suppressions.c) Les Articles 5, 6 et 7 ont été amendés avec les nécessaires additions et suppressions.Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 60747-1:2006.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

décembre 2010

Nombre de pages

155 p.

Référence

IEC 60747-8:2010
Résumé
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs descrets - Partie 8: Transistors à effet de champ

La CEI 60747-8:2010 donne les normes pour les catégories suivantes de transistors à effets de champ:
- type A: type à jonction de grille;
- type B: type à grille isolée à déplétion (appauvrissement) (normalement à l'état passant);
- type C: type à grille isolée à enrichissement (normalement à l'état bloqué).
Les principaux changements par rapport à l'édition précédente sont énumérés ci-dessous.
a) L'Article 3 "Classification" a été déplacé et ajouté à l'Article 1.
b) L'Article 4 "Terminologie et symboles littéraux" a été divisé en Article 3 "Termes et définitions" et Article 4 "Symboles littéraux", ce dernier a été amendé avec des additions et des suppressions.
c) Les Articles 5, 6 et 7 ont été amendés avec les nécessaires additions et suppressions.

Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 60747-1:2006.
Normes remplacées (4)
IEC 60747-8-3:1995
avril 1995
Norme internationale Annulée
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 8: Transistors à effet de champ - Section 3: Spécification particulière cadre pour les transistors à effet de champ, à température de boîtier spécifiée, pour applications en commutation

IEC 60747-8-4:2004
septembre 2004
Norme internationale Annulée
Dispositifs discrets à semiconducteurs - Partie 8-4: Transistors à semiconducteurs à oxyde métallique à effet de champ (MOSFET) pour les applications de commutation de puissance

Donne des détails pour les deux catégories suivantes de transistors à semiconducteurs à oxyde métallique à effet de champ (MOSFET) avec des diodes inverses : type à appauvrissement, type B (normalement à l'état passant) et type à enrichissement, type C (normalement à l'état bloqué).

IEC 60747-8-2:1993
février 1993
Norme internationale Annulée
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 8: Transistors à effet de champ - Section deux: Spécification particulière cadre pour les transistors à effet de champ à température de boîtier spécifiée pour applications en amplificateurs de puissance

IEC 60747-8:2000
décembre 2000
Norme internationale Annulée
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 8: Transistors à effet de champ

Donne les normes pour les catégories suivantes de transistors à effet de champ: - type A : type à jonction de grille; - type B : type à grille isolée à déplétion; - type C : typeà grille isolée à enrichissement.

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