IEC 60749-5:2023
Collections
Normes internationales IEC
Date de publication
décembre 2023
Nombre de pages
17 p.
Référence
IEC 60749-5:2023
IEC 60749-5:2023
décembre 2023
Norme internationale
En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation
L?IEC 60749-5:2023 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l?humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d?essai est considérée comme destructive. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:a) la spécification de l?équipement d?essai est modifiée pour exiger la nécessité de réduire le plus possible les gradients d?humidité relative et d?augmenter le plus possible la circulation d?air entre les dispositifs à semiconducteurs en essai;b) la spécification des fixations de l?équipement d?essai est modifiée pour exiger la prévention de la condensation sur les dispositifs en essai et sur les fixations électriques reliant les dispositifs à l?équipement d?essai;c) le remplacement des références au terme "jonction virtuelle" par "pastille".
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Résumé
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation
L?IEC 60749-5:2023 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l?humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d?essai est considérée comme destructive. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
a) la spécification de l?équipement d?essai est modifiée pour exiger la nécessité de réduire le plus possible les gradients d?humidité relative et d?augmenter le plus possible la circulation d?air entre les dispositifs à semiconducteurs en essai;
b) la spécification des fixations de l?équipement d?essai est modifiée pour exiger la prévention de la condensation sur les dispositifs en essai et sur les fixations électriques reliant les dispositifs à l?équipement d?essai;
c) le remplacement des références au terme "jonction virtuelle" par "pastille".
L?IEC 60749-5:2023 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l?humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d?essai est considérée comme destructive. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
a) la spécification de l?équipement d?essai est modifiée pour exiger la nécessité de réduire le plus possible les gradients d?humidité relative et d?augmenter le plus possible la circulation d?air entre les dispositifs à semiconducteurs en essai;
b) la spécification des fixations de l?équipement d?essai est modifiée pour exiger la prévention de la condensation sur les dispositifs en essai et sur les fixations électriques reliant les dispositifs à l?équipement d?essai;
c) le remplacement des références au terme "jonction virtuelle" par "pastille".
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Normes remplacées
(1)
IEC 60749-5:2017
avril 2017
Norme internationale
Annulée
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation
L?IEC 60749-5:2017 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l?humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d?essai est considérée comme destructive. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l?édition précédente: a) correction d?une erreur dans une équation; b) ajout de notes à des fins de recommandation; c) clarification de l?applicabilité des conditions d?essai.
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