IEC 60749-5:2017

IEC 60749-5:2017

avril 2017
Norme internationale Annulée

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

L’IEC 60749-5:2017 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l’humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d’essai est considérée comme destructive. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente: a) correction d’une erreur dans une équation; b) ajout de notes à des fins de recommandation; c) clarification de l’applicabilité des conditions d’essai.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

avril 2017

Nombre de pages

9 p.

Référence

IEC 60749-5:2017

Codes ICS

31.080.01   Dispositifs à semi-conducteurs en général

Numéro de tirage

1
Résumé
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

L’IEC 60749-5:2017 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l’humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d’essai est considérée comme destructive.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente:
a) correction d’une erreur dans une équation;
b) ajout de notes à des fins de recommandation;
c) clarification de l’applicabilité des conditions d’essai.
Normes remplacées (1)
IEC 60749-5:2003
janvier 2003
Norme internationale Annulée
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5 : essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

Norme remplacée par (1)
IEC 60749-5:2023
décembre 2023
Norme internationale En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

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