IEC 60749-5:2017

IEC 60749-5:2017

avril 2017
Norme internationale Annulée

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

L?IEC 60749-5:2017 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l?humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d?essai est considérée comme destructive.Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l?édition précédente:a) correction d?une erreur dans une équation;b) ajout de notes à des fins de recommandation;c) clarification de l?applicabilité des conditions d?essai.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

avril 2017

Nombre de pages

9 p.

Référence

IEC 60749-5:2017

Numéro de tirage

2
Résumé
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

L?IEC 60749-5:2017 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l?humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d?essai est considérée comme destructive.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l?édition précédente:
a) correction d?une erreur dans une équation;
b) ajout de notes à des fins de recommandation;
c) clarification de l?applicabilité des conditions d?essai.
Normes remplacées (1)
IEC 60749-5:2003
janvier 2003
Norme internationale Annulée
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

Décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l'humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides.

Norme remplacée par (1)
IEC 60749-5:2023
décembre 2023
Norme internationale En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

L?IEC 60749-5:2023 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l?humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d?essai est considérée comme destructive. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente: a) la spécification de l?équipement d?essai est modifiée pour exiger la nécessité de réduire le plus possible les gradients d?humidité relative et d?augmenter le plus possible la circulation d?air entre les dispositifs à semiconducteurs en essai; b) la spécification des fixations de l?équipement d?essai est modifiée pour exiger la prévention de la condensation sur les dispositifs en essai et sur les fixations électriques reliant les dispositifs à l?équipement d?essai; c) le remplacement des références au terme "jonction virtuelle" par "pastille".

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