Décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l'humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides.
Aims at evaluating the reliability of nonhermetic packaged solid-state devices in humid environments. Employs conditions of temperature, humidity, and bias which accelerate the penetration of moisture through the external protective material or along the interface between the external protective material and the metallic conductors which pass through it.
L?IEC 60749-5:2017 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l?humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d?essai est considérée comme destructive. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l?édition précédente: a) correction d?une erreur dans une équation; b) ajout de notes à des fins de recommandation; c) clarification de l?applicabilité des conditions d?essai.
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