IEC 60749-5:2003
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation
Décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l'humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides.
Décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l'humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides.
L’IEC 60749-5:2017 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l’humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d’essai est considérée comme destructive. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente: a) correction d’une erreur dans une équation; b) ajout de notes à des fins de recommandation; c) clarification de l’applicabilité des conditions d’essai.
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