IEC PAS 62178:2000

IEC PAS 62178:2000

août 2000
Spécification publiquement disponible Annulée

Temperature cycling

This test is conducted to determine the resistance of a part to extremes of high- and low-temperatures and to the effect of alternate exposures to these extremes.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

août 2000

Nombre de pages

6 p.

Référence

IEC PAS 62178:2000

Numéro de tirage

1
Résumé
Temperature cycling

This test is conducted to determine the resistance of a part to extremes of high- and low-temperatures and to the effect of alternate exposures to these extremes.
Norme remplacée par (1)
IEC 60749-25:2003
juillet 2003
Norme internationale En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 25 : cycles de température

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