NF EN ISO 9220
NF EN ISO 9220

NF EN ISO 9220

février 2022
Norme En vigueur

Revêtements métalliques - Mesurage de l'épaisseur de revêtement - Méthode au microscope électronique à balayage

Le présent document spécifie une méthode destructive pour le mesurage de l’épaisseur locale des revêtements métalliques et d’autres revêtements inorganiques par examen de coupes transversales au microscope électronique à balayage (MEB). Cette méthode s’applique aux épaisseurs pouvant atteindre plusieurs millimètres; toutefois, pour les revêtements d’une telle épaisseur, il est généralement plus pratique d’utiliser un microscope optique (voir l’ISO 1463). La limite inférieure de l’épaisseur dépend de l’incertitude de mesure obtenue (voir l’Article 10).NOTE            Cette méthode peut également être utilisée pour les couches organiques lorsqu’elles ne sont endommagées ni par la préparation de la coupe transversale ni par le faisceau d’électrons pendant l’imagerie.

Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

février 2022

Nombre de pages

20 p.

Référence

NF EN ISO 9220

Codes ICS

25.220.40   Revêtements métalliques

Indice de classement

A91-108

Numéro de tirage

1

Parenté internationale

ISO 9220:2022

Parenté européenne

EN ISO 9220:2022
Résumé
Revêtements métalliques - Mesurage de l'épaisseur de revêtement - Méthode au microscope électronique à balayage

Le présent document spécifie une méthode destructive pour le mesurage de l’épaisseur locale des revêtements métalliques et d’autres revêtements inorganiques par examen de coupes transversales au microscope électronique à balayage (MEB). Cette méthode s’applique aux épaisseurs pouvant atteindre plusieurs millimètres; toutefois, pour les revêtements d’une telle épaisseur, il est généralement plus pratique d’utiliser un microscope optique (voir l’ISO 1463). La limite inférieure de l’épaisseur dépend de l’incertitude de mesure obtenue (voir l’Article 10).

NOTE            Cette méthode peut également être utilisée pour les couches organiques lorsqu’elles ne sont endommagées ni par la préparation de la coupe transversale ni par le faisceau d’électrons pendant l’imagerie.

Normes remplacées (1)
NF EN ISO 9220
NF EN ISO 9220
mars 1995
Norme Annulée
Revêtements métalliques - Mesurage de l'épaisseur de revêtement - Méthode au microscope électronique à balayage

Sommaire
  • Avant-propos
  • 1 Domaine d'application
  • 2 Références normatives
  • 3 Termes et définitions
  • 4 Principe
  • 5 Appareillage
  • 6 Facteurs ayant une influence sur les résultats du mesurage
  • 7 Préparation des coupes transversales
  • 8 Étalonnage des appareils
  • 9 Mode opératoire
  • 10 Fidélité
  • 11 Expression des résultats
  • 12 Rapport d'essai
  • Annexe A (informative) Recommandations générales de préparation et de mesurage des coupes transversales
  • Annexe B (informative) Informations sur la fidélité
  • Bibliographie
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