Les systèmes de mesure et de commande dans les processus industriels font de plus en plus appel à des circuits électroniques (microprocesseurs par exemple) de plus en plus sensibles aux perturbations électrostatiques et électromagnétiques, présentes dans les milieux de processus industriels dans lesquels il s'agit d'effectuer des mesures et/ou des commandes. D'où la nécessité de préciser qualitativement et quantitativement ces perturbations et de mettre au point des essais permettant de les simuler pour déterminer, d'une part jusqu'à quel point elles affectent les matériels de mesure et de commande, et, d'autre part le moyen de réduire leurs effets.La présente norme constitue une introduction générale à ce problème.
Ce document a pour but de donner une référence générale et globale aux utilisateurs et aux fabricants de matériels électriques et électroniques concernant les essais et les spécifications d'immunité en matière de compatibilité électromagnétique. Il donne à titre informatif une brève description des essais d'immunité. Ce document ne se substitue pas aux autres normes fondamentales décrivant en détails, et sous forme normative, les essais d'immunité. Il ne se substitue pas non plus aux normes génériques ou aux normes de produits ou de famille de produits qui fixent les niveaux de sévérité pour les différents essais d'immunité.
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