NF C83-100

NF C83-100

March 1988
Standard Cancelled

Harmonized system of quality assessment for electronic components. Fixed capacitors. Generic specification (CECC 30 000).

Cette norme comporte la terminologie, les procédures d'assurance de la qualité, les méthodes d'essai et de mesure, une Annexe A donnant l'interprétation des plans et règles d'échantillonnage décrits dans la IEC 410 pour leur usage à l'intérieur du système CECC pour les composants électroniques et une Annexe B pour la prolongation des essais d'endurance sur les condensateurs fixes.

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Collections

National standards and national normative documents

Publication date

March 1988

Number of pages

37 p.

Reference

NF C83-100

ICS Codes

31.060.10   Fixed capacitors

Classification index

C83-100

Print number

1 - 01/04/1988

European kinship

CECC 30000:1983
Sumary
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Fixed capacitors. Generic specification (CECC 30 000).

Cette norme comporte la terminologie, les procédures d'assurance de la qualité, les méthodes d'essai et de mesure, une Annexe A donnant l'interprétation des plans et règles d'échantillonnage décrits dans la IEC 410 pour leur usage à l'intérieur du système CECC pour les composants électroniques et une Annexe B pour la prolongation des essais d'endurance sur les condensateurs fixes.
Replaced standards (1)
NF C83-100
June 1981
Standard Cancelled
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Generic specification. Fixed capacitors.

Table of contents
  • PREAMBULE
    4
  • PRÉFACE
    4
  • Paragraphe
  • SECTION 1 - DOMAINE D'APPLICATION
    5
  • SECTION 2 - GÉNÉRALITÉS
    5
  • 2.1 Documents applicables
    5
  • 2.2 Unités, symboles et terminologie
    7
  • 2.3 Valeurs préférentielles
    11
  • 2.4 Marquage
    11
  • SECTION 3 - PROCEDURES D'ASSURANCE DÉ LA QUALITÉ
    11
  • 3.1 Homologation/Systèmes d'assurance de la qualité
    11
  • 3.2 Étape initiale de fabrication
    11
  • 3.3 Modèles associables
    11
  • 3.4 Procédures d'homologation
    11
  • 3.5 Contrôle de la conformité de la qualité
    12
  • 3.6 Méthodes d'essai de remplacement
    13
  • 3.7 Paramètres non vérifiés
    13
  • 3.8 Étapes de fabrication dans une usine autre que celle du fabricant agrée et/ou située en dehors des limites géographiques du CECC
    14
  • SECTION 4 - METHODES D'ESSAI ET DÉ MESURE
    14
  • 4.1 Généralités
    14
  • 4.2 Conditions atmosphériques normales
    15
  • 4.3 Séchage
    16
  • 4.4 Examen visuel et vérification des dimensions
    16
  • 4.5 Résistance d'isolement
    16
  • 4.6 Tension de tenue
    18
  • 4.7 Capacité
    20
  • 4.8 Tangente de l'angle de pertes
    21
  • 4.9 Courant de fuite
    21
  • 4.10 Impédance
    22
  • 4.11 Inductance
    22
  • 4.12 Sortie de l'armature extérieure
    22
  • 4.13 Robustesse des sorties
    23
  • 4.14 Résistance à la chaleur de soudage
    24
  • 4.15 Soudabilité
    24
  • 4.16 Variations rapides de température
    25
  • 4.17 Vibrations
    25
  • 4.18 Secousses
    26
  • 4.19 Chocs
    26
  • 4.20 Étanchéité des boîtiers
    26
  • 4.21 Séquence climatique
    26
  • 4.22 Essai continu de chaleur humide
    28
  • 4.23 Endurance
    28
  • 4.24 Variation de capacité en fonction de la température
    29
  • 4.25 Stockage
    31
  • 4.26 Surtension
    31
  • 4.27 Essai de charge et décharge
    33
  • 4.28 Essai de tenue à la pression interne (pour les condensateurs électrotechniques)
    35
  • 4.29 Caractéristiques à hautes et basses températures
    35
  • ANNEXE A : Interprétation des plans et règles d'échantillonnage décrits dans la Publication 410 de la IEC pour leur usage à l'intérieur du Système CECC pour les composants électroniques.
    36
  • ANNEXE B : Guide pour la prolongation des essais d'endurance sur les condensateurs fixes.
    37
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