Determination of thickness and chemical composition of zinc- and aluminium-based metallic coatings - Routine method

Le présent document spécifie une méthode par spectrométrie d'émission optique avec décharge luminescente pour la détermination de l'épaisseur et de la composition chimique des revêtements métalliques de surface en alliages de zinc et d'aluminium. Les éléments d'alliage pris en considération sont l'aluminium, le nickel, le silicium et le plomb.Le présent document est applicable à des teneurs en zinc comprises entre 40 % (m/m) et 100 % (m/m) ; à des teneurs en aluminium comprises entre 0,01 % (m/m) et 60 % (m/m) ; à des teneurs en nickel comprises entre 0,01 % (m/m) et 15 % (m/m) ; à des teneurs en silicium comprises entre 0,01 % (m/m) et 3 % (m/m) ; à des teneurs en plomb comprises entre 0,005 % (m/m) et 0,1 % (m/m).

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

October 2005

Number of pages

24 p.

Reference

NF EN 10318

ICS Codes

25.220.20 Surface treatment

Classification index

A06-383

Print number

1 - 16/09/2005

European kinship

EN 10318:2005

Sumary

Determination of thickness and chemical composition of zinc- and aluminium-based metallic coatings - Routine method

Le présent document spécifie une méthode par spectrométrie d'émission optique avec décharge luminescente pour la détermination de l'épaisseur et de la composition chimique des revêtements métalliques de surface en alliages de zinc et d'aluminium. Les éléments d'alliage pris en considération sont l'aluminium, le nickel, le silicium et le plomb. Le présent document est applicable à des teneurs en zinc comprises entre 40 % (m/m) et 100 % (m/m) ; à des teneurs en aluminium comprises entre 0,01 % (m/m) et 60 % (m/m) ; à des teneurs en nickel comprises entre 0,01 % (m/m) et 15 % (m/m) ; à des teneurs en silicium comprises entre 0,01 % (m/m) et 3 % (m/m) ; à des teneurs en plomb comprises entre 0,005 % (m/m) et 0,1 % (m/m).

Table of contents

Avant-propos
3
1 Domaine d'application
4
2 Références normatives
4
3 Principe
4
4 Appareillage
4
4.1 Spectromètre d'émission optique à décharge luminescente
4
4.2 Acquisition des données
5
5 Échantillonnage
5
6 Mode opératoire
6
6.1 Sélection des raies d'analyse
6
6.2 Optimisation des réglages du spectromètre à décharge luminescente
7
6.3 Étalonnage
8
7 Vérification de l'exactitude d'analyse
10
8 Expression des résultats
11
8.1 Méthode de calcul
11
8.2 Fidélité
11
9 Rapport d'essai
16
Annexe A (normative) Calcul des constantes d'étalonnage et évaluation quantitative des profils de profondeur
17
Bibliographie
22

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