NF EN 13925-1
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NF EN 13925-1

October 2003
Standard Current

Non-destructive testing - X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous material - Part 1 : general principles

Le présent document décrit les principes généraux de la diffraction des rayons X appliquée aux matériaux polycristallins et amorphes. Ces principes s'appliquent aux matériaux en poudre, massifs et sous forme de films. Etant donné la diversité des matériaux et des formes de produits, les types d'analyses décrits dans le présent document ne sont pas exhaustifs.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

October 2003

Number of pages

15 p.

Reference

NF EN 13925-1

ICS Codes

19.100   Non-destructive testing

Classification index

A09-280-1

Print number

1 - novembre 2003

European kinship

EN 13925-1:2003
Sumary
Non-destructive testing - X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous material - Part 1 : general principles

Le présent document décrit les principes généraux de la diffraction des rayons X appliquée aux matériaux polycristallins et amorphes. Ces principes s'appliquent aux matériaux en poudre, massifs et sous forme de films. Etant donné la diversité des matériaux et des formes de produits, les types d'analyses décrits dans le présent document ne sont pas exhaustifs.
Table of contents
  • Avant-propos
    3
  • Introduction
    4
  • 1 Domaine d'application
    4
  • 2 Références normatives
    4
  • 3 Termes et définitions
    5
  • 4 Principes généraux de la diffraction des rayons X par les poudres (DRXP)
    5
  • 5 Signification du terme "poudre" pour la diffraction des rayons X
    6
  • 6 Caractéristiques du profil des raies de diffraction
    7
  • 7 Types d'analyse
    7
  • 7.1 Généralités
    7
  • 7.2 Identification de phases (également appelée "analyse qualitative de phase")
    7
  • 7.3 Analyse quantitative de phases
    8
  • 7.4 Estimation des fractions cristalline et amorphe d'un matériau
    8
  • 7.5 Détermination de paramètres de maille
    8
  • 7.6 Détermination de structure
    9
  • 7.7 Affinement de structures
    9
  • 7.8 Caractérisation de la texture cristallographique
    9
  • 7.9 Analyse des macrocontraintes
    9
  • 7.10 Détermination de la taille des cristallites et des microcontraintes
    10
  • 7.11 Fonction de distribution électronique radiale (DER)
    11
  • 8 Environnement particulier de l'échantillon
    11
  • Annexe A (informative) Relations entre les normes relatives à la DRXP
    12
  • Bibliographie
    13
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