NF EN 16997

NF EN 16997

August 2017
Standard Current

Liquid petroleum product - Determination of the sulfur content in Ethanol (E85) automobile fuel - Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometric method

Le présent document spécifie une méthode d'essai par fluorescence de rayons X dispersive en longueur d'onde pour le dosage du soufre dans le carburant pour automobiles Éthanol (E85) , dont la teneur en éthanol est comprise entre 50 et 85 pour cent (V/V) pour des teneurs comprises entre 5 mg/kg et 20 mg/kg, à l'aide d'appareils avec excitation monochromatique ou polychromatique. L'échantillon à analyser, placé dans une cellule de mesure, est soumis au rayonnement primaire d'un tube à rayons X. Les taux de comptage de la raie de fluorescence X K-L2,3 du soufre et le taux de comptage du fond spectral sont mesurés. La corrélation entre le taux d'impulsions et la concentration est calculée par le logiciel. Les effets de matrices sont compensés sur la base de paramètres fondamentaux ou à l'aide d'une table de correction. La teneur en soufre est alors déterminée au moyen de cet étalonnage.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

August 2017

Number of pages

16 p.

Reference

NF EN 16997

ICS Codes

75.160.20   Liquid fuels

Classification index

M07-166

Print number

1

European kinship

EN 16997:2017
Sumary
Liquid petroleum product - Determination of the sulfur content in Ethanol (E85) automobile fuel - Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometric method

Le présent document spécifie une méthode d'essai par fluorescence de rayons X dispersive en longueur d'onde pour le dosage du soufre dans le carburant pour automobiles Éthanol (E85) , dont la teneur en éthanol est comprise entre 50 et 85 pour cent (V/V) pour des teneurs comprises entre 5 mg/kg et 20 mg/kg, à l'aide d'appareils avec excitation monochromatique ou polychromatique. L'échantillon à analyser, placé dans une cellule de mesure, est soumis au rayonnement primaire d'un tube à rayons X. Les taux de comptage de la raie de fluorescence X K-L2,3 du soufre et le taux de comptage du fond spectral sont mesurés. La corrélation entre le taux d'impulsions et la concentration est calculée par le logiciel. Les effets de matrices sont compensés sur la base de paramètres fondamentaux ou à l'aide d'une table de correction. La teneur en soufre est alors déterminée au moyen de cet étalonnage.
Table of contents
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  • Avant-propos
  • 1 Domaine d'application
  • 2 Références normatives
  • 3 Principe
  • 4 Produits et réactifs
  • 5 Appareillage
  • 6 Échantillons et échantillonnage
  • 7 Préparation des solutions d'étalonnage
  • 8 Réglages
  • 9 Étalonnage
  • 10 Mode opératoire
  • 11 Expression des résultats
  • 12 Fidélité
  • 13 Rapport d'essai
  • Annexe A (informative) Contexte de la méthode des paramètres fondamentaux
  • Bibliographie
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