Le présent document s'applique aux thermistances à coefficient de température négatif à chauffage direct, typiquement constitués de matériaux faits d'oxyde de métal de transition dotés de propriétés semiconductrices. Il définit les termes normalisés, les procédures d'inspection et les méthodes d'essai utilisés dans les spécifications intermédiaires et particulières des composants électroniques dans le cadre de l'assurance qualité, ainsi qu'à d'autres fins.
Le présent document s'applique aux thermistances à coefficient de température négatif à chauffage direct, généralement fabriqués à partir de matériaux de transition en oxyde métallique ayant des propriétés semi-conductrices. Il établit des termes normalisés, des procédures de contrôle et des méthodes d'essais pour l'utilisation de l'assurance qualité ou de tout autre besoin dans les spécifications intermédiaires et particulières des composants électroniques.
Le présent document s'applique aux thermistances à coefficient de température négatif à chauffage direct, typiquement constituées de matériaux faits d'oxyde de métal de transition présentant des propriétés semi-conductrices. Il établit des définitions, des procédures de contrôle et des méthodes d'essai normalisées à utiliser dans les spécifications intermédiaires et particulières des composants électroniques, pour les systèmes d'assurance de la qualité ou pour tout autre usage.
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