Le présent document décrit des termes et des méthodes d'essais pour les thermistances à basculement à coefficient de température positif, de type isolés ou non isolés, normalement fabriqués à partir de matériaux semiconducteurs ferroélectrique. Il établit des termes normalisés, des procédures de contrôle et des méthodes d'essais pour l'utilisation pour l'homologation et pour le système d'assurance de la qualité des composants électroniques dans les spécifications particulières.
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