NF EN 60747-5-3/A1

NF EN 60747-5-3/A1

December 2002
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Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Partie 5-3 : optoelectronic devices - Measuring methods

Le présent document concerne l'ajout de nouvelles méthodes de mesure pour les dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

December 2002

Number of pages

15 p.

Reference

NF EN 60747-5-3/A1

ICS Codes

31.260   Optoelectronics. Laser equipment

Classification index

C96-005-3/A1

Print number

1 - 24/01/2003

International kinship

IEC 60747-5-3/A1:2002

European kinship

EN 60747-5-3/A1:2002
Sumary
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Partie 5-3 : optoelectronic devices - Measuring methods

Le présent document concerne l'ajout de nouvelles méthodes de mesure pour les dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs
Table of contents
  • 5.13 Taux critique d'augmentation de la tension à l'état bloqué (dV/dt)
  • 5.14 Courant d'entrée d'amorçage (IFT)
  • 5.15 Méthodes d'essai des caractéristiques électriques assignées pour le coupleur phototriaque
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