NF EN 60749-26

NF EN 60749-26

September 2014
Standard Cancelled

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26 : electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Le présent document établit une procédure pour les essais, l'évaluation et la classification des composants et des microcircuits en fonction de leur susceptibilité (sensibilité) aux dommages ou de leur dégradation suite à leur exposition à des décharges électrostatiques (DES) sur un modèle de corps humain (HBM) défini.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

September 2014

Number of pages

56 p.

Reference

NF EN 60749-26

ICS Codes

31.080.01   Semiconductor devices in general

Classification index

C96-022-26

Print number

1

International kinship

IEC 60749-26:2013

European kinship

EN 60749-26:2014
Sumary
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26 : electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Le présent document établit une procédure pour les essais, l'évaluation et la classification des composants et des microcircuits en fonction de leur susceptibilité (sensibilité) aux dommages ou de leur dégradation suite à leur exposition à des décharges électrostatiques (DES) sur un modèle de corps humain (HBM) défini.
Replaced standards (1)
NF EN 60749-26
December 2006
Standard Cancelled
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26 : electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Le présent document établit une procédure normalisée pour les essais et la classification des dispositifs à semiconducteurs en fonction de leur sensibilité aux dommages ou de leur dégradation suite à leur exposition à des décharges électrostatiques (DES) sur un modèle de corps humain (HBM). Le but de ce document est de fournir des résultats d'essai de DES HBM fiables et reproductibles de manière que des classifications précises puissent être réalisées.

Standard replaced by (1)
NF EN IEC 60749-26
March 2018
Standard Current
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26 : electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Le présent document établit une procédure pour les essais, l'évaluation et la classification des composants et des microcircuits en fonction de leur susceptibilité (sensibilité) aux dommages ou de leur dégradation à la suite de leur exposition à des décharges électrostatiques (DES) sur un modèle de corps humain (HBM) défini.

Table of contents
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  • SOMMAIRE
    3
  • 1 Domaine d'application
    5
  • 2 Références normatives
    5
  • 3 Termes et définitions
    5
  • 4 Appareillage et matériel requis
    9
  • 4.1 Appareil de vérification de la forme d'onde
    9
  • 4.2 Oscilloscope
    9
  • 4.3 Exigences supplémentaires concernant les oscilloscopes numériques
    9
  • 4.4 Transducteur de courant (sonde de courant inductive)
    9
  • 4.5 Charges d'évaluation
    10
  • 4.6 Simulateur de modèle du corps humain
    10
  • 4.7 Propriétés parasites du matériel d'essai de HBM
    11
  • 5 Qualification et vérification de routine du matériel d'essai de contrainte
    11
  • 5.1 Vue d'ensemble des évaluations requises de l'appareil d'essai de HBM
    11
  • 5.2 Procédures de mesure
    11
  • 5.3 Qualification de l'appareil d'essai de HBM
    16
  • 5.4 Qualification de la carte de montage d'essai pour les appareils d'essai avec support
    18
  • 5.5 Exigences du contrôle de forme d'onde de routine
    18
  • 5.6 Vérification du chemin de décharge haute tension
    20
  • 5.7 Enregistrements de forme d'onde de l'appareil d'essai
    20
  • 5.8 Précautions de sécurité
    20
  • 6 Procédure de classification
    21
  • 6.1 Dispositifs de classification
    21
  • 6.2 Essai paramétrique et fonctionnel
    21
  • 6.3 Contrainte du dispositif
    21
  • 6.4 Catégorie de broches
    22
  • 6.5 Regroupement de broches
    24
  • 6.6 Combinaisons de contraintes de broches
    25
  • 6.7 Essai après contrainte
    30
  • 7 Critères de défaillance
    30
  • 8 Classification des composants
    30
  • Annexe A (informative) Organigramme de la méthode d'essai de HBM
    31
  • Annexe B (informative) Propriétés parasites du matériel d'essai de HBM
    38
  • Annexe C (informative) Exemple d'essai d'un produit à l'aide du Tableau 2, du Tableau 3, ou du Tableau 2 avec un appareil d'essai de HBM à deux broches
    44
  • Annexe D (informative) Exemples de paires de broches couplées n'assurant pas l'alimentation
    51
  • Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes
    52
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