NF EN 61000-4-20

August 2003

Standard Cancelled

Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20 : testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides

Le présent document concerne les méthodes d'essai d'émission et d'immunité pour les équipements électriques et électroniques utilisant différents types de guides d'onde transverse électromagnétique (TEM). Ces types comprennent des structures ouvertes (par exemple, des lignes ouvertes et des simulateurs d'impulsion électromagnétique), et des structures fermées (par exemple des cellules TEM), qui peuvent être elles-mêmes classées en guides d'onde TEM à un accès, à deux accès, ou à accès multiples. La gamme de fréquences dépend des exigences d'essai spécifiques et du type spécifique de guide d'onde TEM.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

August 2003

Number of pages

68 p.

Reference

NF EN 61000-4-20

ICS Codes

33.100.01 Electromagnetic compatibility in general

Classification index

C91-004-20

Print number

1 - 05/09/2003

International kinship

IEC 61000-4-20:2003

European kinship

EN 61000-4-20:2003

Sumary

Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20 : testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides

Le présent document concerne les méthodes d'essai d'émission et d'immunité pour les équipements électriques et électroniques utilisant différents types de guides d'onde transverse électromagnétique (TEM). Ces types comprennent des structures ouvertes (par exemple, des lignes ouvertes et des simulateurs d'impulsion électromagnétique), et des structures fermées (par exemple des cellules TEM), qui peuvent être elles-mêmes classées en guides d'onde TEM à un accès, à deux accès, ou à accès multiples. La gamme de fréquences dépend des exigences d'essai spécifiques et du type spécifique de guide d'onde TEM.

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NF EN 61000-4-20

February 2011

Standard Cancelled

Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20 : testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides

Le présent document concerne les méthodes d'essai d'émission et d'immunité pour les matériels électriques et électroniques utilisant différents types de guides d'onde transverses électromagnétiques (TEM). Ces types comprennent des structures ouvertes (par exemple, des lignes ouvertes et des simulateurs d'impulsion électromagnétique) , et des structures fermées (par exemple des cellules TEM) , qui peuvent être elles-mêmes classées en guides d'onde TEM à un accès, à deux accès, ou à accès multiples. La gamme de fréquences dépend des exigences d'essai spécifiques et du type spécifique de guide d'onde TEM.

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