Electroacoustics. Random-incidence and diffuse-field calibration of soud level meters.

Ce document décrit une méthode d'étalonnage en champ libre pour déterminer les niveaux de sensibilité sous incidence aléatoire des sonomètres et en champ diffus. Les résultats dépendent des parties du sonomètre exposées au champ acoustique.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

December 1994

Number of pages

24 p.

Reference

NF EN 61183

ICS Codes

17.140.50 Electroacoustics

Classification index

S31-011

Print number

International kinship

IEC 61183:1994

European kinship

EN 61183:1994

Sumary

Electroacoustics. Random-incidence and diffuse-field calibration of soud level meters.

Ce document décrit une méthode d'étalonnage en champ libre pour déterminer les niveaux de sensibilité sous incidence aléatoire des sonomètres et en champ diffus. Les résultats dépendent des parties du sonomètre exposées au champ acoustique.

Table of contents

AVANT-PROPOS
2
1 Domaine d'application
4
2 Références normatives
4
3 Définitions
5
4 Méthode d'étalonnage à partir de mesures en champ libre
6
Figure 1 Système de coordonnées de référence pour la détermination du niveau de sensibilité sous incidence aléatoire, à partir des mesures en champ libre
7
Figure 2 Système de coordonnées de référence pour la détermination pratique du niveau de sensibilité sous incidence aléatoire, à partir des mesures en champ libre
8
5 Méthode d'étalonnage à partir de mesures en champ diffus
9
Annexe A Méthode pratique d'étalonnage à partir de mesures en champ libre
11
FigureA.1 Sonomètre avec son microphone positionné au centre d'une sphère et la direction de référence du son incident alignée avec l'axe des X
12
FigureA.2 Sonomètre en essai monté sur une table tournante pour obtenir l'incidence acoustique suivant différentes directions dans le plan des X-Y
12
FigureA.3 Méthode simulant la rotation dans le plan des X-Z par une rotation de 90° du sonomètre en essai autour d'un axe coïncidant avec sa direction de référence suivie d'une rotation dans le plan des X-Y comme dans la figure A.2
13
Tableau A.1 Facteurs d'ajustement K(phi) pour le calcul du niveau de sensibilité sous incidence aléatoire
14
Annexe B Méthode pratique d'étalonnage à partir de mesures en champ diffus
18
Tableau B.1 Caractéristiques du microphone de modèle LS2aP/LS2F
20
Annexe ZA Autres publications internationales citées dans la présente norme avec les références des publications européennes correspondantes
22

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