XP X43-243
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January 1998
Standard Cancelled

Workplace air. Fourier transform infrared spectrometric determination of crystalline silica. Sampling using a rotating cup device or a filter membrane.

Ce document décrit une méthode de dosage de la silice cristalline par IRTF applicable à l'analyse quantitative de la silice amorphe, des argiles et à d'autres minéraux.

Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Thematics

Gestion des risques et SST

Publication date

January 1998

Number of pages

26 p.

Reference

XP X43-243

ICS Codes

13.040.30   Workplace atmospheres

Classification index

X43-243

Print number

1 - février 1998
Sumary
Workplace air. Fourier transform infrared spectrometric determination of crystalline silica. Sampling using a rotating cup device or a filter membrane.

Ce document décrit une méthode de dosage de la silice cristalline par IRTF applicable à l'analyse quantitative de la silice amorphe, des argiles et à d'autres minéraux.
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March 2002
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Workplace air - Fourier transform infrared spectrometric determination of crystalline silica - Sampling using a rotating cup device or a filter membrane

Le présent document décrit une méthode de dosage de la silice cristalline par IRTF applicable à l'analyse quantitative de la silice amorphe, des argiles et à d'autres minéraux.

Table of contents
  • Introduction
    4
  • 1 Domaine d'application
    4
  • 2 Références normatives
    4
  • 3 Définitions
    5
  • 4 Symboles
    6
  • 5 Principe de la méthode
    7
  • 6 Matériel
    7
  • 7 Réactifs
    8
  • 8 Préparation des échantillons pour analyse
    8
  • 9 Analyse de l'échantillon
    9
  • 10 Calcul et expression des résultats
    15
  • 11 Rapport d'essai
    15
  • Annexe A (informative) Procédure traitement d'un échantillon massif
    21
  • Annexe B (normative) Synoptique de l'analyse d'un échantillon
    22
  • Annexe C (informative) Analyse granulométrique par diffraction laser
    23
  • Annexe D (normative) Préparation des pastilles et des filtres utilisés pour les étalonnages
    24
  • Annexe E (informative) Bibliographie
    25
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