NF C86-020

NF C86-020

November 1985
Standard Cancelled

Harmonized system of quality assessment for electronic components. Monolithic integrated circuits. Generic specification

Cette norme comporte la terminologie, les spécifications de contrôle de la qualité, les méthodes d'essai et de mesure pouvant être appliquées à l'ensemble des circuits intégrés monolithiques. Les spécifications intermédiaires font l'objet d'une série de documents particuliers qui se rattachent tous à la spécification générique, donc à la présente norme. Il a été ajouté à la spécification CECC 90 000 une annexe permettant aux lecteurs français qui ne disposeraient pas des publications IEC et ISO citées, de retrouver les références des normes françaises Identiques ou équivalentes. Dans ce dernier cas, il n'y a pas de divergences sur le fond. Afin que le texte de cette norme soit une reproduction rigoureuse de la spécification CECC, les dispositions typographiques adoptées pour ce document ont été conservées : en particulier les symboles littéraux ont été imprimés en caractères romains (droits). Il a été vérifié que le non-respect des principes normatifs n'entraînait pas de confusion.

Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

November 1985

Number of pages

47 p.

Reference

NF C86-020

ICS Codes

31.200   Integrated circuits. Microelectronics

Classification index

C86-020

Print number

1 - 01/12/1985

European kinship

CECC 90000:1985
Sumary
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Monolithic integrated circuits. Generic specification

Cette norme comporte la terminologie, les spécifications de contrôle de la qualité, les méthodes d'essai et de mesure pouvant être appliquées à l'ensemble des circuits intégrés monolithiques. Les spécifications intermédiaires font l'objet d'une série de documents particuliers qui se rattachent tous à la spécification générique, donc à la présente norme. Il a été ajouté à la spécification CECC 90 000 une annexe permettant aux lecteurs français qui ne disposeraient pas des publications IEC et ISO citées, de retrouver les références des normes françaises Identiques ou équivalentes. Dans ce dernier cas, il n'y a pas de divergences sur le fond. Afin que le texte de cette norme soit une reproduction rigoureuse de la spécification CECC, les dispositions typographiques adoptées pour ce document ont été conservées : en particulier les symboles littéraux ont été imprimés en caractères romains (droits). Il a été vérifié que le non-respect des principes normatifs n'entraînait pas de confusion.
Replaced standards (1)
NF C86-020
July 1983
Standard Cancelled
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Generic specification. Monolithic integrated circuits.

Table of contents
  • PREAMBULE
    3
  • PREFACE
    3
  • 1 DOMAINE D'APPLICATION
    5
  • 2 GENERALITES
    5
  • 2.1 Ordre de priorité
    5
  • 2.2 Documents applicables
    5
  • 2.3 Unités, symboles et terminologie
    6
  • 2.4 Valeurs normalisées et préférentielles
    7
  • 2.5 Marquage du composant et de son emballage
    7
  • 2.6 Identification à la commande
    10
  • 3 PROCEDURES D'ASSURANCE DE LA QUALITE
    11
  • 3.1 Etape initiale de fabrication et sous-traitance
    11
  • 3.2 Modèles associables
    11
  • 3.3 Procédures d'homologation
    12
  • 3.4 Contrôle de conformité de la qualité
    14
  • 4 PROCEDURES D'ESSAIS ET DE MESURES
    16
  • 4.1 Conditions normales d'essai
    16
  • 4.2 Examen visuel
    17
  • 4.3 Dimensions
    18
  • 4.4 Immersion dans les solvants de nettoyage
    19
  • 4.5 Mesures électriques
    19
  • 4.6 Essais climatiques et mécaniques
    21
  • 4.7 Définition des axes pour les essais mécaniques
    33
  • 4.8 Essais d'endurance électrique
    34
  • 4.9 Procédures d'essais accélérés
    34
  • 4.10 Sélection
    34
  • ANNEXE A : Examen visuel interne (éditée séparément)
  • ANNEXE B : Comparaison entre les documents IEC et CECC concernant les essais climatiques et mécaniques et d'endurance électrique
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