Electronic components. Semiconductor devices. Discrete devices and integrated circuits. Part 1 : general.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

July 1984

Number of pages

55 p.

Reference

NF C96-001

ICS Codes

31.080.01 Semiconductor devices in general

31.200 Integrated circuits. Microelectronics

Classification index

C96-001

Print number

1 - 01/08/1984

International kinship

IEC 60747-1:1983

Table of contents

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AVANT-PROPOS
CHAPITRE I: DOMAINE D'APPLICATION ET PRÉSENTATION DES PUBLICATIONS 747 ET 748 DE LA IEC
1. Publications 747
5
1.1 Domaine d'application
5
1.2 Présentation
5
2. Publications 748
5
2.1 Domaine d'application
5
2.2 Présentation
5
CHAPITRE II: BUT ET PRÉSENTATION DE LA PUBLICATION 747-1
1. But
6
2. Présentation
6
CHAPITRE III: BUT, PRÉSENTATION ET EXIGENCES RELATIVES AUX PUBLICATIONS 747-2, 747-3, ETC.
1. But de chaque publication
7
2. Présentation de chaque publication
7
2.1 Subdivision en chapitres
7
2.2 Subdivision en sous-catégories de dispositifs
7
3. Exigences relatives aux différents chapitres de chaque publication
7
3.1 Exigences relatives au chapitre I, Généralités
7
3.2 Exigences relatives au chapitre II, Terminologie et symboles littéraux
7
3.3 Exigences relatives au chapitre III, Valeurs limites et caractéristiques essentielles
8
3.4 Exigences relatives au chapitre IV, Méthodes de mesure
8
3.5 Exigences relatives au chapitre V, Réception et fiabilité
8
CHAPITRE IV: TERMINOLOGIE, GÉNÉRALITÉS
1. Introduction
9
2. Termes physiques
9
3. Termes généraux
12
4. Types de dispositifs
12
5. Termes relatifs aux valeurs limites et aux caractéristiques
16
5.1 Tensions
16
5.2 Températures
16
5.3 Caractéristiques thermiques
16
5.4 Bruit
18
5.5 Autres termes
19
CHAPITRE V: SYMBOLES LITTÉRAUX, GÉNÉRALITÉS
1. Introduction
20
2. Symboles littéraux pour les courants, les tensions et les puissances
20
3. Symboles littéraux pour les paramètres électriques
24
4. Symboles littéraux pour les autres grandeurs
26
CHAPITRE VI: VALEURS LIMITES ET CARACTÉRISTIQUES ESSENTIELLES, GÉNÉRALITÉS
1. Introduction
28
2. Feuille cadre pour la présentation des données publiées
28
3. Définitions fondamentales pour les valeurs limites
28
4. Définitions des conditions de refroidissement
29
5. Liste des températures recommandées
30
6. Liste des tensions et courants recommandés
30
7. Valeurs limites et caractéristiques mécaniques et autres données
32
8. Normalisation des positions des sorties sur les embases des dispositifs à semiconducteurs
34
9. Code de couleurs pour les sorties des dispositifs à semiconducteurs
35
10. Informations générales applicables aux dispositifs multiples ayant une encapsulation commune
36
11. Dispersion et conformité de la production
38
12. Câblages et circuits imprimés
38
CHAPITRE VII: MÉTHODES DE MESURE GÉNÉRALES ET MÉTHODES DE MESURE DE RÉFÉRENCE, GÉNÉRALITÉS
SECTION UN - MÉTHODES DE MESURE GÉNÉRALES
1. Introduction
39
2. Précautions générales
39
2.1 Protection des dispositifs et de l'appareillage de mesure
39
2.2 Précision des mesures
40
2.3 Définitions
41
SECTION DEUX - MÉTHODES DE MESURE DE RÉFÉRENCE
41
1. Guide pour les méthodes de mesure de référence
42
2. Conditions thermiques pour les mesures électriques de référence
42
2.1 Introduction
42
2.2 Conditions dans le cas d'une dissipation de puissance négligeable dans ,le dispositif
43
2.3 Conditions dans le cas d'une dissipation de puissance non négligeable dans le dispositif
43
CHAPITRE VIII: RÉCEPTION ET FIABILITÉ DES DISPOSITIFS DISCRETS
SECTION UN - GÉNÉRALITÉS
SECTION DEUX - PRINCIPES GÉNÉRAUX (A l'étude)
SECTION TROIS - ESSAIS D'ENDURANCE ÉLECTRIQUE
1. But et présentation
46
2. Exigences générales
46
2.1 Conditions pour les essais d'endurance
46
2.2 Durée de l'essai
48
2.3 Caractéristiques définissant la défaillance et mesures
49
2.4 Critères de défaillances
49
2.5 Précautions
49
3. Exigences spécifiques. Principes généraux
50
3.1 Tableau des essais d'endurance
50
3.2 Conditions pour les essais d'endurance
50
3.3 Critères de défaillances et caractéristiques définissant la défaillance pour la réception après les essais d'endurance
50
3.4 Critères de défaillances et caractéristiques définissant la défaillance pour les essais de fiabilité (à l'étude)
51
3.5 Procédure à suivre dans le cas d'une erreur d'essai
51
3.6 Informations à donner dans les tableaux I et II
51
CHAPITRE IX: DISPOSITIFS SENSIBLES AUX CHARGES ÉLECTROSTATIQUES
1. Précautions de manipulation
52
2. Étiquette et symbole
53
3. Méthodes d'essais (à l'étude)
55

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