NF C96-001

NF C96-001

July 1984
Standard Current

Electronic components. Semiconductor devices. Discrete devices and integrated circuits. Part 1 : general.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

July 1984

Number of pages

55 p.

Reference

NF C96-001

ICS Codes

31.080.01   Semiconductor devices in general
31.200   Integrated circuits. Microelectronics

Classification index

C96-001

Print number

1 - 01/08/1984

International kinship

IEC 60747-1:1983
Table of contents
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  • AVANT-PROPOS
  • CHAPITRE I: DOMAINE D'APPLICATION ET PRÉSENTATION DES PUBLICATIONS 747 ET 748 DE LA IEC
  • 1. Publications 747
    5
  • 1.1 Domaine d'application
    5
  • 1.2 Présentation
    5
  • 2. Publications 748
    5
  • 2.1 Domaine d'application
    5
  • 2.2 Présentation
    5
  • CHAPITRE II: BUT ET PRÉSENTATION DE LA PUBLICATION 747-1
  • 1. But
    6
  • 2. Présentation
    6
  • CHAPITRE III: BUT, PRÉSENTATION ET EXIGENCES RELATIVES AUX PUBLICATIONS 747-2, 747-3, ETC.
  • 1. But de chaque publication
    7
  • 2. Présentation de chaque publication
    7
  • 2.1 Subdivision en chapitres
    7
  • 2.2 Subdivision en sous-catégories de dispositifs
    7
  • 3. Exigences relatives aux différents chapitres de chaque publication
    7
  • 3.1 Exigences relatives au chapitre I, Généralités
    7
  • 3.2 Exigences relatives au chapitre II, Terminologie et symboles littéraux
    7
  • 3.3 Exigences relatives au chapitre III, Valeurs limites et caractéristiques essentielles
    8
  • 3.4 Exigences relatives au chapitre IV, Méthodes de mesure
    8
  • 3.5 Exigences relatives au chapitre V, Réception et fiabilité
    8
  • CHAPITRE IV: TERMINOLOGIE, GÉNÉRALITÉS
  • 1. Introduction
    9
  • 2. Termes physiques
    9
  • 3. Termes généraux
    12
  • 4. Types de dispositifs
    12
  • 5. Termes relatifs aux valeurs limites et aux caractéristiques
    16
  • 5.1 Tensions
    16
  • 5.2 Températures
    16
  • 5.3 Caractéristiques thermiques
    16
  • 5.4 Bruit
    18
  • 5.5 Autres termes
    19
  • CHAPITRE V: SYMBOLES LITTÉRAUX, GÉNÉRALITÉS
  • 1. Introduction
    20
  • 2. Symboles littéraux pour les courants, les tensions et les puissances
    20
  • 3. Symboles littéraux pour les paramètres électriques
    24
  • 4. Symboles littéraux pour les autres grandeurs
    26
  • CHAPITRE VI: VALEURS LIMITES ET CARACTÉRISTIQUES ESSENTIELLES, GÉNÉRALITÉS
  • 1. Introduction
    28
  • 2. Feuille cadre pour la présentation des données publiées
    28
  • 3. Définitions fondamentales pour les valeurs limites
    28
  • 4. Définitions des conditions de refroidissement
    29
  • 5. Liste des températures recommandées
    30
  • 6. Liste des tensions et courants recommandés
    30
  • 7. Valeurs limites et caractéristiques mécaniques et autres données
    32
  • 8. Normalisation des positions des sorties sur les embases des dispositifs à semiconducteurs
    34
  • 9. Code de couleurs pour les sorties des dispositifs à semiconducteurs
    35
  • 10. Informations générales applicables aux dispositifs multiples ayant une encapsulation commune
    36
  • 11. Dispersion et conformité de la production
    38
  • 12. Câblages et circuits imprimés
    38
  • CHAPITRE VII: MÉTHODES DE MESURE GÉNÉRALES ET MÉTHODES DE MESURE DE RÉFÉRENCE, GÉNÉRALITÉS
  • SECTION UN - MÉTHODES DE MESURE GÉNÉRALES
  • 1. Introduction
    39
  • 2. Précautions générales
    39
  • 2.1 Protection des dispositifs et de l'appareillage de mesure
    39
  • 2.2 Précision des mesures
    40
  • 2.3 Définitions
    41
  • SECTION DEUX - MÉTHODES DE MESURE DE RÉFÉRENCE
    41
  • 1. Guide pour les méthodes de mesure de référence
    42
  • 2. Conditions thermiques pour les mesures électriques de référence
    42
  • 2.1 Introduction
    42
  • 2.2 Conditions dans le cas d'une dissipation de puissance négligeable dans ,le dispositif
    43
  • 2.3 Conditions dans le cas d'une dissipation de puissance non négligeable dans le dispositif
    43
  • CHAPITRE VIII: RÉCEPTION ET FIABILITÉ DES DISPOSITIFS DISCRETS
  • SECTION UN - GÉNÉRALITÉS
  • SECTION DEUX - PRINCIPES GÉNÉRAUX (A l'étude)
  • SECTION TROIS - ESSAIS D'ENDURANCE ÉLECTRIQUE
  • 1. But et présentation
    46
  • 2. Exigences générales
    46
  • 2.1 Conditions pour les essais d'endurance
    46
  • 2.2 Durée de l'essai
    48
  • 2.3 Caractéristiques définissant la défaillance et mesures
    49
  • 2.4 Critères de défaillances
    49
  • 2.5 Précautions
    49
  • 3. Exigences spécifiques. Principes généraux
    50
  • 3.1 Tableau des essais d'endurance
    50
  • 3.2 Conditions pour les essais d'endurance
    50
  • 3.3 Critères de défaillances et caractéristiques définissant la défaillance pour la réception après les essais d'endurance
    50
  • 3.4 Critères de défaillances et caractéristiques définissant la défaillance pour les essais de fiabilité (à l'étude)
    51
  • 3.5 Procédure à suivre dans le cas d'une erreur d'essai
    51
  • 3.6 Informations à donner dans les tableaux I et II
    51
  • CHAPITRE IX: DISPOSITIFS SENSIBLES AUX CHARGES ÉLECTROSTATIQUES
  • 1. Précautions de manipulation
    52
  • 2. Étiquette et symbole
    53
  • 3. Méthodes d'essais (à l'étude)
    55
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