NF EN 15305
Non-destructive testing - Test Method for Residual Stress analysis by X-ray Diffraction
Le présent document décrit la méthode d'essai non destructif permettant la détermination des contraintes macroscopiques résiduelles ou appliquées non destructives par une analyse de la diffraction des rayons X dans la zone proche de la surface d'une éprouvette ou d'un composant polycristallin.Le présent document ne couvre pas les méthodes d'analyse des contraintes résiduelles basées sur les émissions de rayons X par synchrotron.
Le présent document décrit la méthode d'essai non destructif permettant la détermination des contraintes macroscopiques résiduelles ou appliquées non destructives par une analyse de la diffraction des rayons X dans la zone proche de la surface d'une éprouvette ou d'un composant polycristallin. Le présent document ne couvre pas les méthodes d'analyse des contraintes résiduelles basées sur les émissions de rayons X par synchrotron.
Le présent document décrit les principes généraux et les limites des méthodes de détermination des contraintes résiduelles par la diffraction des rayons X. Il définit en particulier les conditions : préparation des pièces à soumettre à l'essai, de réalisation et d'évaluation des échantillons de référence, de choix et de qualification de l'appareillage, ainsi que le mode opératoire et le traitement des résultats. Le présent document s'appuie sur les documents en cours d'élaboration au sein du CEN/TC 138 "Essais non destructifs" concernant les principes généraux, les procédures, les matériaux de référence et l'appareillage pour la diffraction des rayons X des matériaux polycristallins et amorphes.
- Avant-propos4
- Introduction5
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1 Domaine d'application6
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2 Références normatives7
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3 Termes, définitions et symboles7
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3.1 Termes et définitions7
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3.2 Symboles et abréviations7
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4 Principes10
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4.1 Principes généraux du mesurage10
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4.2 Analyse biaxiale de contraintes12
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4.3 Analyse triaxiale des contraintes14
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5 Éprouvette15
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5.1 Caractéristiques du matériau15
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5.2 Préparation de l'éprouvette17
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6 Matériel18
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6.1 Généralités18
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6.2 Choix du matériel18
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6.3 Choix du rayonnement22
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6.4 Choix du détecteur24
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6.5 Performance de l'équipement24
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6.6 Qualification et vérification du matériel25
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7 Méthode expérimentale28
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7.1 Généralités28
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7.2 Positionnement de l'éprouvette28
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7.3 Conditions de diffraction29
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7.4 Acquisition de données29
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8 Traitement des données31
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8.1 Généralités31
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8.2 Traitement des données de diffraction31
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8.3 Calcul des contraintes33
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8.4 Évaluation critique des résultats35
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9 Rapport37
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10 Détermination expérimentale des CER38
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10.1 Introduction38
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10.2 Dispositif de mise en charge38
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10.3 Éprouvette39
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10.4 Étalonnage du dispositif de mise en charge et adaptation de l'éprouvette39
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10.5 Mesurage dans le diffractomètre40
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10.6 Calcul des CER40
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11 Éprouvettes de référence41
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11.1 Introduction41
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11.2 Éprouvette de référence sans contrainte41
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11.3 Éprouvette de référence sous contraintes42
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12 Cas limitatifs44
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12.1 Introduction44
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12.2 Présence d'un gradient de contrainte sous la surface44
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12.3 Gradient de contrainte superficiel45
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12.4 Rugosité de la surface45
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12.5 Surfaces non planes45
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12.6 Effets de la microstructure du matériau45
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12.7 Raies de diffraction larges47
- Annexe A (informative) Représentation schématique du projet de normalisation européenne des poudres de diffraction des rayons X48
- Annexe B (informative) Origine des contraintes résiduelles49
- Annexe C (normative) Détermination de l'état de contraintes . Procédure générale50
- Annexe D (informative) Progrès récents55
- Annexe E (informative) Détails du traitement des données de mesure60
- Annexe F (informative) Description générale des méthodes d'acquisition69
- Annexe G (informative) Mode opératoire normal de mesure des contraintes et Mode opératoire spécifique de mesure des contraintes83
- Bibliographie85
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