Non destructive testing. Test methods for residual stress analysis by X-ray diffraction.

Le présent document décrit les principes généraux et les limites des méthodes de détermination des contraintes résiduelles par la diffraction des rayons X. Il définit en particulier les conditions : préparation des pièces à soumettre à l'essai, de réalisation et d'évaluation des échantillons de référence, de choix et de qualification de l'appareillage, ainsi que le mode opératoire et le traitement des résultats. Le présent document s'appuie sur les documents en cours d'élaboration au sein du CEN/TC 138 "Essais non destructifs" concernant les principes généraux, les procédures, les matériaux de référence et l'appareillage pour la diffraction des rayons X des matériaux polycristallins et amorphes.

Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

May 1999

Number of pages

28 p.

Reference

XP A09-285

ICS Codes

19.100 Non-destructive testing

Classification index

A09-285

Print number

1 - 06/05/1999

Sumary

Non destructive testing. Test methods for residual stress analysis by X-ray diffraction.

Le présent document décrit les principes généraux et les limites des méthodes de détermination des contraintes résiduelles par la diffraction des rayons X. Il définit en particulier les conditions : préparation des pièces à soumettre à l'essai, de réalisation et d'évaluation des échantillons de référence, de choix et de qualification de l'appareillage, ainsi que le mode opératoire et le traitement des résultats. Le présent document s'appuie sur les documents en cours d'élaboration au sein du CEN/TC 138 "Essais non destructifs" concernant les principes généraux, les procédures, les matériaux de référence et l'appareillage pour la diffraction des rayons X des matériaux polycristallins et amorphes.

Standard replaced by (1)

NF EN 15305

April 2009

Standard Current

Non-destructive testing - Test Method for Residual Stress analysis by X-ray Diffraction

Le présent document décrit la méthode d'essai non destructif permettant la détermination des contraintes macroscopiques résiduelles ou appliquées non destructives par une analyse de la diffraction des rayons X dans la zone proche de la surface d'une éprouvette ou d'un composant polycristallin. Le présent document ne couvre pas les méthodes d'analyse des contraintes résiduelles basées sur les émissions de rayons X par synchrotron.

Table of contents

Introduction
4
1 Domaine d'application
4
2 Références normatives
4
3 Symboles et définitions
5
3.1 Symboles
5
3.2 Définitions
5
4 Principes
7
4.1 Principes généraux de la mesure
7
4.2 Précautions et limites
8
5 Domaines d'utilisation
9
6 Pièce à soumettre à l'essai
9
6.1 Matériau, forme et dimensions
9
6.2 Préparation de la pièce
10
7 Réalisation et évaluation des échantillons de référence
11
7.1 Échantillon de référence sans contrainte
11
7.2 Echantillon de référence avec contrainte
11
8 Appareillage
13
8.1 Choix de l'appareil suivant la nature, les dimensions de l'échantillon et le type d'analyse souhaitée
13
8.2 Choix de l'anode et des filtres
14
8.3 Performance de l'appareil
15
8.4 Qualification et vérification des appareils pour l'essai
16
9 Procédure expérimentale
17
9.1 Choix des paramètres liés à la pièce
17
9.2 Collimation et masquage
18
9.3 Mise en place de la pièce
18
9.4 Acquisition des mesures
19
9.5 Cas limites
20
10 Traitement et analyse des résultats
22
10.1 Traitement et analyse des résultats d'une mesure
22
10.2 Traitement de l'ensemble d'une mesure
23
10.3 Critères définissant la qualité d'une mesure
24
10.4 Retraitement des données
24
11 Calibrage
25
11.1 Définition
25
11.2 Domaine d'application
25
11.3 Appareillage
25
11.4 Éprouvettes
26
11.5 Procédures
26
11.6 235Calcul des CER
26
11.7 Calcul d'incertitudes
26
12 Rapport d'essai
27

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