NF EN 60749-13

NF EN 60749-13

December 2002
Standard Cancelled

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13 : salt atmosphere

Le présent document décrit un essai d'atmosphère saline appliqué aux dispositifs à semiconducteurs.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

December 2002

Number of pages

8 p.

Reference

NF EN 60749-13

ICS Codes

31.080.01   Semiconductor devices in general

Classification index

C96-022-13

Print number

1 - 24/01/2003

International kinship

IEC 60749-13:2002

European kinship

EN 60749-13:2002
Sumary
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13 : salt atmosphere

Le présent document décrit un essai d'atmosphère saline appliqué aux dispositifs à semiconducteurs.
Standard replaced by (1)
NF EN IEC 60749-13
April 2018
Standard Current
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13 : salt atmosphere

Le présent document décrit un essai d'atmosphère saline réalisé pour déterminer la résistance à la corrosion des dispositifs à semiconducteurs. Il s'agit d'un essai accéléré qui simule les effets d'une atmosphère côtière corrosive sur toutes les surfaces exposées. Il n'est applicable qu'aux dispositifs spécifiés pour un environnement maritime. L'essai d'atmosphère saline est considéré comme destructif.

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