NF EN 60749-34

NF EN 60749-34

December 2005
Standard Cancelled

Semiconducteur devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 : power cycling

Le présent document détermine la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

December 2005

Number of pages

18 p.

Reference

NF EN 60749-34

ICS Codes

31.080.01   Semiconductor devices in general

Classification index

C96-022-34

Print number

1 - 23/12/2005

International kinship

IEC 60749-34:2004

European kinship

EN 60749-34:2004
Sumary
Semiconducteur devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 : power cycling

Le présent document détermine la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes
Standard replaced by (1)
NF EN 60749-34
May 2011
Standard Current
Semiconducteur devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 : power cycling

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