NF EN 60749-34
Semiconducteur devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 : power cycling
Le présent document décrit une méthode d'essai utilisée pour déterminer la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes.
Le présent document décrit une méthode d'essai utilisée pour déterminer la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes.
Le présent document détermine la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes
- Avant-propos
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1 Domaine d'application et objet
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2 Références normatives
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3 Termes et définitions
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4 Appareillage d'essai
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5 Procédure
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6 Conditions d'essai
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7 Précautions
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8 Mesures
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9 Critères de défaillance
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10 Résumé
- Annexe
- Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes
- Bibliographie
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