NF EN 60749-34
NF EN 60749-34

NF EN 60749-34

May 2011
Standard Current

Semiconducteur devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 : power cycling

Le présent document décrit une méthode d'essai utilisée pour déterminer la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

May 2011

Number of pages

15 p.

Reference

NF EN 60749-34

ICS Codes

31.080.01   Semiconductor devices in general

Classification index

C96-022-34

Print number

1

International kinship

IEC 60749-34:2010

European kinship

EN 60749-34:2010
Sumary
Semiconducteur devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 : power cycling

Le présent document décrit une méthode d'essai utilisée pour déterminer la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes.
Replaced standards (1)
NF EN 60749-34
NF EN 60749-34
December 2005
Standard Cancelled
Semiconducteur devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 : power cycling

Le présent document détermine la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes

Table of contents
  • Avant-propos
  • 1 Domaine d'application et objet
  • 2 Références normatives
  • 3 Termes et définitions
  • 4 Appareillage d'essai
  • 5 Procédure
  • 6 Conditions d'essai
  • 7 Précautions
  • 8 Mesures
  • 9 Critères de défaillance
  • 10 Résumé
  • Annexe
  • Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes
  • Bibliographie
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