NF EN 62276
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NF EN 62276

February 2006
Standard Cancelled

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods

Le présent document concerne la fabrication des tranches monocristallines de quartz synthétiques, lithium niobate (LN) lithium tantale (LT) tétraborate de lithium (LBO) et silicate de gallium de lautane destinées à être utilisées comme substrat dans la fabrication des filtres et résonateurs à ondes acoustiques de surface.

Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

February 2006

Number of pages

36 p.

Reference

NF EN 62276

ICS Codes

31.140   Piezoelectric devices

Classification index

C93-616

Print number

1

International kinship

IEC 62276:2005

European kinship

EN 62276:2005
Sumary
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods

Le présent document concerne la fabrication des tranches monocristallines de quartz synthétiques, lithium niobate (LN) lithium tantale (LT) tétraborate de lithium (LBO) et silicate de gallium de lautane destinées à être utilisées comme substrat dans la fabrication des filtres et résonateurs à ondes acoustiques de surface.
Standard replaced by (1)
NF EN 62276
NF EN 62276
March 2013
Standard Cancelled
Single Crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods

Le présent document s'applique à la fabrication de tranches monocristallines de quartz synthétique, de niobate de lithium (LN), de tantalate de lithium (LT), de tétraborate de lithium (LBO) et de silicate de gallium et de lanthane (LGS) destinées à être utilisées comme substrats dans la fabrication de résonateurs et de filtres à ondes acoustiques de surface (OAS).

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