FD T16-207

FD T16-207

February 2012
Published document Cancelled

Nanotechnologies - Determination of elemental impurities in samples of carbon nanotubes using inductively coupled plasma mass spectrometry

Le présent document fournit des méthodes pour la détermination des éléments résiduels autres que le carbone dans les échantillons de nanotubes de carbone à paroi simple (SWCNT) et de nanotubes de carbone à parois multiples (MWCNT) par spectrométrie de masse à plasma induit (ICP-MS). Le but de ce document est de fournir des procédures optimisées de digestion et de préparation d'échantillons SWCNT et MWCNT pour permettre un dosage exact et quantitatif des impuretés élémentaires par analyse ICP-MS.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

February 2012

Number of pages

26 p.

Reference

FD T16-207

ICS Codes

07.120   Nanotechnologies

Classification index

T16-207

Print number

1 - 01/03/2012

International kinship

Sumary
Nanotechnologies - Determination of elemental impurities in samples of carbon nanotubes using inductively coupled plasma mass spectrometry

Le présent document fournit des méthodes pour la détermination des éléments résiduels autres que le carbone dans les échantillons de nanotubes de carbone à paroi simple (SWCNT) et de nanotubes de carbone à parois multiples (MWCNT) par spectrométrie de masse à plasma induit (ICP-MS). Le but de ce document est de fournir des procédures optimisées de digestion et de préparation d'échantillons SWCNT et MWCNT pour permettre un dosage exact et quantitatif des impuretés élémentaires par analyse ICP-MS.
Standard replaced by (1)
XP ISO/TS 13278
February 2018
Standard Current
Nanotechnologies - Determination of elemental impurities in samples of carbon nanotubes using inductively coupled plasma mass spectrometry

<p>ISO/TS 13278:2017 provides methods for the determination of residual elements other than carbon in samples of single-wall carbon nanotubes (SWCNTs) and multiwall carbon nanotubes (MWCNTs) using inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS).</p> <p>The purpose of this document is to provide optimized digestion and preparation procedures for SWCNT and MWCNT samples in order to enable accurate and quantitative determinations of elemental impurities using ICP-MS.</p>

Table of contents
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  • Avant-propos
    iv
  • Introduction
    v
  • 1 Domaine d'application
    1
  • 2 Références normatives
    1
  • 3 Termes et définitions, symboles et abréviations
    1
  • 3.1 Termes et définitions
    1
  • 3.2 Symboles et abréviations
    2
  • 4 Échantillons et réactifs
    2
  • 4.1 Généralités
    2
  • 4.2 Échantillons
    3
  • 4.3 Réactifs
    3
  • 4.4 Solutions mères
    3
  • 4.5 Solutions mères de dopage
    4
  • 4.6 Solutions mères d'étalon interne
    4
  • 4.7 Solutions étalons mères de réglage
    4
  • 5 Appareillage
    5
  • 6 Prétraitement de l'échantillon
    5
  • 6.1 Préparation de l'échantillon pour l'analyse par ICP-MS
    5
  • 6.2 Digestion par voie humide sous haute pression
    6
  • 6.3 Incinération par voie sèche et digestion acide combinées
    6
  • 6.4 Digestion par micro-ondes
    7
  • 7 Modes opératoires expérimentaux
    8
  • 7.1 ICP-MS
    8
  • 7.2 Interférences dans l'ICP-MS
    8
  • 7.3 Sélection des isotopes
    9
  • 7.4 Courbe d'étalonnage
    9
  • 7.5 Évaluation du taux de récupération des méthodes au moyen des ajouts d'étalons
    9
  • 7.6 Utilisation des étalons internes dans l'analyse ICP-MS
    9
  • 8 Analyse des données et interprétation des résultats
    10
  • 8.1 Calcul de la fraction massique des impuretés élémentaires dans l'échantillon d'essai
    10
  • 8.2 Calcul du taux de récupération de l'agent de dopage (méthode)
    10
  • 9 Estimation de l'incertitude
    11
  • 10 Rapport d'essai
    11
  • Annexe A (informative) Exemple de détermination des impuretés élémentaires dans des nanotubes de carbone
    13
  • Bibliographie
    19
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